รายละเอียดโครงการวิจัยเรื่อง การสร้างแผนภูมิควบคุมจำนวนรอยตำหนิด้วยวิธีเบส์ในการควบคุมคุณภาพการผลิต ()

#		ชื่อผลงานการตีพิมพ์	ผู้นำเสนอผลงาน	วันที่นำเสนอ	#
1	ปี พ.ศ. 2567	Bayesian Control Chart for Number of Defect in Production Quality Control [กลุ่มสาขา : วิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี] [แหล่งตีพิมพ์ : Mathematics, 12(12), 1-10. June 2024 ISSN: 2227-7390 (ฐานข้อมูลนานาชาติ Scopus, SJR Q2)]	หยาดพิรุณ ศุภรากรสกุล [คณะวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี]	2024-06-01
2	ปี พ.ศ. 2567	Empirical Bayes Prediction for an Attribute Control Chart in Quality Monitoring [กลุ่มสาขา : วิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี] [แหล่งตีพิมพ์ : IEEE Access, 12, 160184-160793. 2024 Published: 17 October 2024 ISSN: 2169-3536 (ฐานข้อมูลนานาชาติ Scopus, SJR Q1)]	หยาดพิรุณ ศุภรากรสกุล [คณะวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี]	2024-10-17