รายละเอียดข้อมูลโครงการวิจัย
รหัสโครงการวิจัย
​FRB640052/03
ปีงบประมาณ
2564
ประเภทโครงการ
โครงการวิจัยเดี่ยว
ประเภททุน
พัฒนาวิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม
ชื่อโครงการวิจัย
การสร้างแผนภูมิควบคุมเชิงคุณลักษณะด้วยวิธีเอ็มพิริคัลเบส์
ชื่อโครงการวิจัย (EN)
Empirical Bayes Control Chart for Attribute
นักวิจัย
1. อาจารย์ ดร. หยาดพิรุณ ศุภรากรสกุล (หัวหน้าโครงการ, ร้อยละการทำวิจัย 100 )
สาขาวิชา/กลุ่มงาน
สาขาวิชา คณิตศาสตร์
หลักสูตร
วิทยาศาสตรบัณฑิต (วท.บ.)
คณะ/หน่วยงาน
คณะวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี
บทคัดย่อ
งานวิจัยนี้นำเสนอการสร้างแผนภูมิควบคุมจำนวนรอยตำหนิ c-chart โดยใช้แนวความคิด เอ็มพิริคัลเบส์และเปรียบเทียบประสิทธิภาพแผนภูมิควบคุมจำนวนรอยตำหนิ c-chart โดยใช้แนวความคิดเอ็มพิริคัลเบส์กับแผนภูมิควบคุมรอยตำหนิประเภทดั้งเดิมและวิธีเบส์ที่กำหนดการแจกแจงเบื้องต้นเป็นเจฟฟรีย์

วิธีการดำเนินการวิจัยนี้แบ่งออกเป็น 2 ขั้นตอน ประกอบด้วย 1) ศึกษาเอกสาร ตำรา และ งานวิจัยที่เกี่ยวข้องเพื่อนำไปสู่การพิสูจน์ทฤษฎีเพื่อนำไปสู่กรสร้างแผนภูมิควบคุมจำนวนรอยตำหนิ c-chart โดยใช้แนวความคิดเอ็มพิริคัลเบส์และหลังจากพิสูจน์ทฤษฎีแล้ว 2) พัฒนาโปรแกรมเพื่อ จำลองสถานการณ์ในการเปรียบเทียบประสิทธิภาพของแผนภูมิควบคุมจำนวนรอยตำหนิที่นำเสนอ โดยแนวความคิดเอ็มพิริคัลเบส์และเปรียบเทียบกับแผนภูมิควบคุมจำนวนรอยตำหนิประเภทดั้งเดิม และวิธีเบส์ที่กำหนดการแจกแจงเบื้องต้นเป็นเจฟฟรีย์

ผลการศึกษาพบว่า ส่วนใหญ่แผนภูมิควบคุมจำนวนรอยตำหนิ c-chart โดยใช้แนวความคิด เอ็มพิริคัลเบส์มีประสิทธิมากที่สุด โดยพิจารณาจากค่าความยาวรันเฉลี่ย (ARL) ซึ่งให้มากสูงที่สุด เกือบทุกกรณีที่ศึกษา นอกจากนี้ยังพบว่า วิธีเบส์กำหนดการแจกแจงเบื้องต้นเป็นเจฟฟรีย์ให้ค่าที่ ใกล้เคียงกับวิธีที่นำเสนออีกด้วย ส่วนวิธีดั้งเดิมจะมีประสิทธิภาพในกรณีที่พารามิเตอร์ของการแจกแจงปัวซงมีค่ามาก 


This research proposes c chart development for the total number of nonconformities by using Empirical Bayes approach. The comparison of 2 existing methods; frequentist and Bayes by using Jeffreys prior for c hart is also investigated. 

There are two research methodology of this study; literature reviews for derivation of c chart for nonconformities development by using Empirical Bayes and simulation study using different of λ and number of inspection units (m) of comparative performance between the proposed method and 2 existing methods of c chart determined by average run length (ARL) which larger value is desired

The result found that the introduced Empirical Bayes gives larger values for the ARL and smaller values for the FAR for almost of cases. It concludes that suggested Empirical Bayes is very efficiency for c chart due to the ARL obtained from this method were generally closer to the expected nominal value for the ARL, 370.3704. In addition, the ARL yielded from Bayes method with Jeffreys prior is close to Empirical Bayes method. Bayesian and Empirical Bayes methods actually had wider control limits. While, the frequentist is more effectively when the λ is larger.
คำสำคัญ
แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิ,เอ็มพิริคัลเบส์,c chart,Empirical Bayes
สถานะโครงการ
ดำเนินการเสร็จสิ้น
บทคัดย่อ
PDF ดาวน์โหลด เปิด : 49 ครั้ง
เล่มรายงาน
PDF ดาวน์โหลด เปิด : 161 ครั้ง / ดาวน์โหลด : 0 ครั้ง
(จำกัดจำนวน 8 หน้า เข้าสู่ระบบสำหรับเอกสารฉบับเต็ม)
เปิดดู
236 ครั้ง
หมายเหตุ

เอกสารเพิ่มเติม
แสดง 1 ถึง 1 จาก 1 ผลลัพธ์
#ไฟล์เอกสารรายละเอียด
1 ประกาศทุนฯ  (โหลด : 52 ครั้ง)